系统介绍

ST5000系列高性能数字混合信号测试系统

为了更好地满足客户高性能、高稳定性的测试需求,加速科技重磅推出了新一代测试系统ST5000系列。

该系列包含ST5000与ST5000HD两款产品,最高支持1024数字通道配置、1Gbps速率传输,Pattern Rate 支持250Mhz。硬件结构采用Direct Docking连接方式,兼容Jtype针卡,最大程度降低客户转平台治具成本。配套设计的公用loadboard,可以极大缩短客户产品硬件开发周期。ST5000还具有灵活的可扩展性,为后期蓝牙测试模块、RF测试模块及各类高性价比解决方案奠定了良好基础。

ST-IDE软件提供用户友好的集成开发环境,丰富的开发和调试工具,方便客户进行测试程序开发。针对工厂批量测试,提供专用的工厂界面,并拥有丰富的数据记录和分析工具。

ST5000系列高性能数字混合信号测试系统

产品优势

01

高效率

高效率

集成40Gbps通信总线,双工模式高效传输

FPGA硬件实现调度算法,无阻塞全并行测试

广播式向量加载及动态修改,向量高速下载

相比传统机台效率提升30%以上

02

高性能

高性能

数字IO速率高达1Gbps

配合高速LoadBoard解决方案,支持17.5Gbps高速接口测试,同时支持10GE、MIPI、HDMI、JED204B、LVDS、PCIe、自定义协议等

03

可扩展

可扩展

通信架构,模块化设计

支持级联扩展,提升通道密度

支持功能板卡扩展,提升资源种类

04

可定制

可定制

自主知识产权,可依据客户需求定制

提供软硬件算法定制化

提供IC和模组系统级测试方案

应用场景

ST5000系列产品可以广泛应用于MCU、SoC、FLASH、EEPROM、
CIS、指纹芯片、LDO、PMIC、CPLD、FPGA、Audio等半导体晶圆、 器件测试和模块系统级测试。

目标器件

产品关键特性

采用数字混合架构,单板集成数字、模拟混合信号测试功能,支持250/500MHz时钟频率,500Mbps/1Gbps数据速率

DFB32H业务板支持32路数字通道,每通道含独立PPMU模块,4机台级联,最大支持1024路数字通道1024sites并测

每通道192M Vector存储深度,SCAN模式单SCAN Chain高达3GB,高速通信架构,Pattern加载及测试过程中 的动态修改以广播方式下发,提高并行测试效率

突破传统Format限制,由用户自定义波形,128组timing set、1024组edge set、6edge可调,输入输出自由转换,大大减少程序开发限制

DFB32H业务支持4路DPS(+8.4V/-3.25V电平设定,驱动电流500mA),电源支持Gang Mode

DFB32H业务板支持4路100MHz TMU,1路2MSPS 16bit AWG,1路1MSPS 16bit Digitizer

通信系统标准,超负荷硬件自测系统,保证系统超长时间稳定运行

ST-IDE软件提供基于Eclipse的IDE开发环境,支持基于C/C++的开发,提供各种开发工具和调试工具

支持单板4通道20V@500mA高压输出及测量

支持单板8通道高精度LFAWG功能,THD最高-130dBc, SNR最高112dB

支持单板8通道高精度LFDGT功能,THD最高-115dBc, SNR最高105dB

系统配置

根据测试资源要求,通过模块扩展,可以满足资源场景配置。

ST5000

ST5000

512数字通道,512PPMU通道,64DPS

ST5000HD

ST5000HD

1024数字通道,1024PPMU通道,128DPS

相关解决方案

MCU/SoC测试方案

All-in-one设计;模块化设计;DIO双指令集。

存储芯片测试方案

逻辑、软件特别优化;定制化Repair功能;模块化设计。

CIS测试方案

图像处理定制化;160Gbps分布式通信技术;专业SoC数字板卡。

Bluetooth测试方案

标准1U;超高的频段范围;支持多种协议;支持Sub-6GHz多域并测。

高速接口SLT测试方案

整合通用DC、AC及高速测试;高性能算法加速技术;定制化算法。

教育培训方案

根据多年测试产业积累,结合实训人员的特殊性推出了标准化的集成电路测试工程培训方案。

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