当前产品名称

ST2500高性能数字混合信号测试系统

  • 产品简述
  • 系统规格
  • 产品运用


ST2500高性能数字混合信号测试系统


系统介绍

测试机作为半导体测试环节的核心设备,其成本和测试效率直接影响了IC的生产成本。随着半导体芯片在中国生产制造规模扩大,SIP的大量推广,单颗芯片集成越来越多功能,高性能可扩展的数字混合信号测试机就显得非常重要。加速科技经过多年研发,采用业界最先进的多学科交叉技术,推出高性能可扩展的数字混合信号测试系统解决方案。


ST2500借鉴高速通信技术,采用最先进的系统架构,集成度高,功能强大,扩展性强。单机支持5个功能槽位,根据不同应用场景可以配置不同数量板卡,系统最大可以支持4机级联,20个功能槽位。功能板卡采用先进的FPGA实现,单板高度集成数字与混合信号功能,包含32个125MHz数字通道,4路DPS,4路100MHz TMU,1路 2MSPS AWG,1路1MSPS DGT,1路高精度RVS,完全硬件实现Parttern下发和系统调度,可以无阻塞全并行测试,测试效率极高。


ST2500提供用户友好的集成开发环境,丰富的开发和调试工具方便客户进行测试程序开发。针对测试工厂批量测试,提供专用的工厂界面,集成丰富的数据记录和分析工具,并可提供客制化工厂系统连接方案,方便批量测试和管理。



系统配置

根据测试资源要求,通过模块扩展,可以满足资源场景配置


ST2516:1个模块,160通道数字I/O,160通道PPMU,20DPS

ST2500高性能数字混合信号测试系统


ST2532:2个模块,320通道数字IO/,320通道PPMU,40DPS


ST2500高性能数字混合信号测试系统



ST2564:4个模块,640通道数字I/O,640通道PPMU,80DPS


ST2500高性能数字混合信号测试系统






产品关键特性

1. 125MHz测试频率,250Mbps数据速率

2. 单板集成数字、模拟、混合信号测试功能

3. 支持最高640sites并测

4. 单板支持32路数字I/O,单机台支持32~160路数字I/O,4机台级联,最大支持640路数字I/O

5. 每通道96M Vector存储深度,SCAN模式单SCAN Chain高达1.5GB,高端通信架构,Pattern 加载及测试过程中的动态修改以广播方式下发,提高并行测试效率

6. 突破传统Format限制,每通道可定义256组timing set,每timing set 可定义最多256 wave table,4 edge可调,输入输出自由转换

7. 每通道含独立PPMU模块,+/-40mA动态负载单元

8. 单板支持4路DPS(+8V/-4V电平设定,驱动电流500mA),电源支持Gang Mode,单机台最高支持20路DPS, 4机台级联支持80路DPS

9. 单板支持4路 100MHz TMU,1路2MSPS 16bit  AWG , 1路1MSPS 16bit Digitizer及1路高精度RVS

10.系统支持125MHz线缆连接模式,极大节省系统成本

11.通信系统标准,超负荷硬件自测系统,保证系统超长时间稳定运行。

12.智能软硬件维护系统,提供故障代码,精确定位软硬件故障位置

13.提供基于Eclips的IDE 开发环境,支持基于C/C++的开发,提供各种开发工具和调试工具

14.针对工厂量产提供专门GUI,数据实现显示监控,提供丰富的数据记录分析工具


模块系统规格

ST2500高性能数字混合信号测试系统


软件功能

ST2500提供一整套基于Windows系统的集成开发软件,用于创建测试方案及开发调试,软件GUI界面设计简洁,布局合理,使用方便,根据不同登陆用户灵活切换应用场景,集成了AWG、DGT、Pattern等开发调试工具,可以方便用户开发调试。


开发界面

1.内置文本编辑器(Editor)与集成开发环境(IDE),丰富的自定义快捷键,提高开发效率

2.IDE支持代码高亮、智能编辑,代码输入过程中自动补充方法或类,大大提升编码速度

3.Debug功能强大,日志支持本地保存便于问题排查分析

4.内置资源管理,AWG/DGT/RVS/DPS/PPMU/ DIO/CBIT/Pattern配置管理和调试工具,方便开发和调试


ST2500高性能数字混合信号测试系统










ST2500高性能数字混合信号测试系统


ST2500高性能数字混合信号测试系统



工厂界面

1.实时动态显示测试结果,可根据客户需求后台设定良率目标,当良率低于目标时,机台自动报警或报警后停机

2. 测试数据支持自定义格式导出,支持txt,csv及STDF。软件支持标准STDF文件解析及初始统计数据分析

3.测试过程实时监测机台状况,发现异常自动报警提示

4.测试记录定期自动清理,无需手动清理,清理前自动提示备份测试数据


ST2500高性能数字混合信号测试系统















ST2500高性能数字混合信号测试系统


Pattern工具

1.提供GUI界面完成Pattern编辑、存储、下发、调试

2.支持Pattern波形化显示,方便与VCD波形对比检查

3.支持将原始STIL,VCD、WGL等多种格式波形文件转化为测试系统可读取的Vector

4. Pattern工具支持微指令技术,使Pattern操作由繁变简,整体编程效率提高


ST2500高性能数字混合信号测试系统

ST2500高性能数字混合信号测试系统



















应用场景

ST2500数字混合信号测试系统可以广泛应用于MCU、FLSAH、EEROM、Logic、小型CPLD/FPGA、CIS、指纹芯片、LDO、PA、射频开关、滤波器等半导体器件测试和模块系统级测试。
ST2500高性能数字混合信号测试系统







开发界面

1.内置文本编辑器(Editor)与集成开发环境(IDE),丰富的自定义快捷键,提高开发效率

2.IDE支持代码高亮、智能编辑,代码输入过程中自动补充方法或类,大大提升编码速度

3.Debug功能强大,日志支持本地保存便于问题排查分析

4.内置资源管理,AWG/DGT/RVS/DPS/PPMU/ DIO/CBIT/Pattern配置管理和调试工具,方便开发和调试


ST2500高性能数字混合信号测试系统











ST2500高性能数字混合信号测试系统


ST2500高性能数字混合信号测试系统



工厂界面

1.实时动态显示测试结果,可根据客户需求后台设定良率目标,当良率低于目标时,机台自动报警或报警后停机

2. 测试数据支持自定义格式导出,支持txt,csv及STDF。软件支持标准STDF文件解析及初始统计数据分析

3.测试过程实时监测机台状况,发现异常自动报警提示

4.测试记录定期自动清理,无需手动清理,清理前自动提示备份测试数据


ST2500高性能数字混合信号测试系统





















ST2500高性能数字混合信号测试系统



Pattern工具

1.提供GUI界面完成Pattern编辑、存储、下发、调试

2.支持Pattern波形化显示,方便与VCD波形对比检查

3.支持将原始STIL,VCD、WGL等多种格式波形文件转化为测试系统可读取的Vector

4. Pattern工具支持微指令技术,使Pattern操作由繁变简,整体编程效率提高


ST2500高性能数字混合信号测试系统

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