方案概述
存储芯片测试方案概述
加速科技推出的250Mbps高性能数字混合信号测试系统，对于市场上EEPROM、中小容量NOR Flash，及嵌入式存储器有着良好的支持。合适的DIO通道与电源、高压源配比及模块化的资源，使得多site扩展简单易行。高容量向量深度，可满足中小容量存储芯片的存储功能测试。系统、各模块间高速通信带宽，算法硬件调度，可有效提升测试效率。
方案介绍
核心优势
CORE ADVANTAGES
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